特許

J-GLOBAL ID：201603016712915794

登録装置及び検索装置並びに方法及びプログラム

発明者： 松▲崎▼ 康平
出願人/特許権者： KDDI株式会社
代理人 (3件)： 阪本 清孝 ,  田中 香樹 ,  田邉 壽二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-211014
公開番号（公開出願番号）：特開2016-081248
出願日： 2014年10月15日
公開日（公表日）： 2016年05月16日
要約：

【課題】参照画像と質問画像との見え方の違いを考慮して量子化誤りを緩和し、高精度に参照画像と質問画像との類似度の算出等を可能とする登録装置を提供する。【解決手段】第一特徴点検出部11は、参照画像より特徴点を検出する。パッチ画像生成部13は、参照画像の特徴点の周囲領域をパッチ画像として定め、パッチ画像に一連の射影変換またはぼけ変換を施すことで一連の学習画像を生成する。第三局所特徴量記述部14は、一連の学習画像において特徴点の局所特徴量を特徴ベクトルとして求める。統計的量子化部15は、検出された特徴点ごとに、求まった一連の特徴ベクトルをそれぞれ代表ベクトルへと量子化したうえで集計し、頻度が高いと判定される代表ベクトルを特徴点の量子化された特徴ベクトルとして定める。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

参照画像より特徴点を検出する第一特徴点検出部と、 前記参照画像において前記検出された特徴点の局所特徴量を求める第一局所特徴量記述部と、 前記参照画像の前記特徴点の周囲領域に撮影の際の所定の外乱を変換として施すことで一連の学習画像を生成するパッチ画像生成部と、 前記一連の学習画像において前記検出された特徴点の局所特徴量を特徴ベクトルとして求める第三局所特徴量記述部と、 前記検出された特徴点ごとに、前記求まった一連の特徴ベクトルをそれぞれ代表ベクトルへと量子化したうえで集計し、頻度が高いと判定される代表ベクトルを当該特徴点の量子化された特徴ベクトルとして定める統計的量子化部と、 前記参照画像における前記検出された特徴点と当該特徴点において前記定められた量子化された特徴ベクトルと、を、当該参照画像のレファレンス量として記録するデータベースと、を備えることを特徴とする登録装置。

IPC (2件)：

G06T 7/00 ,  G06F 17/30

FI (3件)：

G06T7/00 300F ,  G06F17/30 170B ,  G06F17/30 210A

Fターム (17件)：

5L096AA06 ,  5L096EA02 ,  5L096EA35 ,  5L096FA09 ,  5L096FA26 ,  5L096FA35 ,  5L096FA62 ,  5L096FA64 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096GA55 ,  5L096HA08 ,  5L096JA03 ,  5L096JA11 ,  5L096KA09 ,  5L096KA13 ,  5L096MA07