特許
J-GLOBAL ID:201603018094582811

構造物の分析装置および構造物の分析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 机 昌彦 ,  下坂 直樹
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2013050415
公開番号(公開出願番号):WO2013-183313
出願日: 2013年01月11日
公開日(公表日): 2013年12月12日
要約:
構造物が破壊される前段階での劣化等の構造物の状態変化を分析可能な、構造物の分析装置および構造物の分析方法を提供する。 本発明の構造物の分析装置(10)は、構造物の振動を検出する振動検出手段(11)と、振動検出手段(11)の出力信号を分析する分析手段(12)とを備え、分析手段(12)は、下記式(1)で算出される共振先鋭度Qについて、基準状態での値と分析の際の状態での値とを比較することで、前記構造物の状態変化を分析する。 Q=f/Δf (1) f :構造物の共振周波数 Δf:ピーク値の半値となる周波数幅
請求項(抜粋):
構造物の振動を検出する振動検出手段と、 前記振動検出手段の出力信号を分析する分析手段とを備え、 前記分析手段は、下記式(1)で算出される共振先鋭度Qについて、基準状態での値と分析の際の状態での値とを比較することで、前記構造物の状態変化を分析する、構造物の分析装置。 Q=f/Δf (1) f :構造物の共振周波数 Δf:ピーク値の半値となる周波数幅
IPC (1件):
G01H 17/00
FI (1件):
G01H17/00 Z
Fターム (4件):
2G064AA05 ,  2G064AB01 ,  2G064AB02 ,  2G064AB11

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