特許
J-GLOBAL ID：201603019499801142
充放電検査装置、充放電検査装置を校正するための校正装置、及び校正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
森下 賢樹
, 村田 雄祐
, 三木 友由
, 富所 輝観夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-134487
公開番号（公開出願番号）：特開2013-257263
特許番号：特許第6017848号
出願日： 2012年06月14日
公開日（公表日）： 2013年12月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 それぞれ並行して二次電池を検査するための第1チャンネル及び第2チャンネルを含む複数のチャンネルを備え、各チャンネルは二次電池の充放電電流を検出するための検出抵抗を含む充放電検査装置であって、
前記第1チャンネルの検出抵抗と前記第2チャンネルの検出抵抗とが標準抵抗を介して直列に接続される校正回路において各検出抵抗及び前記標準抵抗に共通の電流が流れるとき各検出抵抗及び前記標準抵抗のそれぞれに生じる電圧降下に基づいて、前記第1チャンネル及び第2チャンネルそれぞれについて各検出抵抗を通じて検出される充放電電流の検出値を補正するための校正パラメタを演算するコントローラを備えることを特徴とする充放電検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/36 ( 200 6.01)
, H02J 7/00 ( 200 6.01)
, H01M 10/48 ( 200 6.01)
G01R 31/36 Z
, H02J 7/00 Q
, H01M 10/48 P
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (9件)
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