特許
J-GLOBAL ID：201603019867334258
位置ずれ量測定方法及び画像記録装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 憲三
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-053226
公開番号（公開出願番号）：特開2014-177057
特許番号：特許第5894098号
出願日： 2013年03月15日
公開日（公表日）： 2014年09月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の記録素子を有するヘッドモジュールを第1の方向に複数配列してなる記録ヘッドと、記録媒体とを前記第1の方向と直交する第2の方向に相対移動させながら、前記複数のヘッドモジュールのうちの第1のヘッドモジュール及び第2のヘッドモジュールの各々により、前記第1の方向に延びた形状のドットパターンを前記第2の方向に予め定めた間隔で前記記録媒体上に記録させる記録ステップと、
前記記録ステップで前記記録媒体上に記録された前記ドットパターンを光学的に読み取る読取ステップと、
前記読取ステップで読み取られた前記ドットパターンの読取画像の前記第2の方向の濃度変化を示す濃度プロファイルを算出する濃度プロファイル算出ステップと、
前記濃度プロファイル算出ステップの算出結果に基づき、前記濃度プロファイル内での各前記ドットパターンに対応する波形の繰り返し周期を算出する繰り返し周期算出ステップと、
前記繰り返し周期算出ステップの算出結果に基づき、前記濃度プロファイルのデータを、前記繰り返し周期毎に積算して積算濃度プロファイルを算出する積算濃度プロファイル算出ステップと、
前記積算濃度プロファイル算出ステップの算出結果に基づき、前記第1のヘッドモジュールの記録位置と前記第2のヘッドモジュールの記録位置との前記第2の方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出ステップであって、前記積算濃度プロファイルにおける各前記ドットパターンにそれぞれ対応する波形のピーク位置を求め、各前記ピーク位置に基づいて前記位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出ステップと、
を有する位置ずれ量測定方法。
IPC (1件)：
FI (3件)：
B41J 2/01 203
, B41J 2/01 451
, B41J 2/01 209
