特許

J-GLOBAL ID：201603019890121687

液晶表示パネルの検査方法、および液晶表示パネルの検査装置

発明者： 西村 吉弘 ,  添野 宣 ,  松本 直基
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人前田特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013004445
公開番号（公開出願番号）：WO2014-017066
出願日： 2013年07月22日
公開日（公表日）： 2014年01月30日
要約：

液晶表示パネルの検査を適切に行うようにするため、検査対象の液晶表示パネルをカメラとバックライトとの間に配置して撮影し第1画像データを得、第1画像データと所定の第2画像データとに基づいて液晶表示パネルの欠陥を検出し、所定の第2画像データは輝点欠陥を有しない液晶表示パネルをカメラとバックライトとの間に配置して撮影したときの画像データに相当する画像データであり、前記欠陥検出は第1画像データに含まれる輝点画像のうち、第2画像データに含まれる輝点画像を除去することにより(S103)液晶表示パネルの欠陥を検出する。

請求項（抜粋）：

液晶表示パネルの欠陥検出方法であって、 検査対象の液晶表示パネルを、カメラとバックライトとの間に配置して撮影し、第1画像データを得る撮影工程と、 前記第1画像データと、所定の第2画像データとに基づいて、前記検査対象の液晶表示パネルの欠陥を検出する欠陥検出工程と、 を含み、 前記所定の第2画像データは、輝点欠陥を有しない液晶表示パネルをカメラとバックライトとの間に配置して撮影したときの画像データに相当する画像データであり、 前記欠陥検出工程は、第1画像データに含まれる輝点画像のうち、第2画像データに含まれる輝点画像を除去することにより、前記検査対象の液晶表示パネルの欠陥を検出することを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/958 ,  G02F 1/13

FI (3件)：

G01M11/00 T ,  G01N21/958 ,  G02F1/13 101

Fターム (13件)：

2G051AA73 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB11 ,  2G051BA11 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051EC01 ,  2G051EC03 ,  2G086EE10 ,  2H088FA13 ,  2H088FA30 ,  2H088HA12