特許
J-GLOBAL ID:201603020145688568

軸受の残存寿命予測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 特許業務法人栄光特許事務所 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-021046
公開番号(公開出願番号):特開2013-160561
特許番号:特許第5910124号
出願日: 2012年02月02日
公開日(公表日): 2013年08月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 所定の周波数の励磁電流を試験コイルに印加して、機械装置に組み込まれる軸受の表面部に渦電流を誘導し、前記渦電流に基づき変化する前記試験コイルの出力電圧を検出して、前記出力電圧に基づき前記軸受の残存寿命を予測する軸受の残存寿命予測方法であって、 前記励磁電流の前記周波数を可変出力する渦電流装置を用いて、前記試験コイルに印加される前記励磁電流の前記周波数を高周波数域から低周波数域まで複数段階で変化させ、 前記軸受の使用前後に対する前記試験コイルの前記出力電圧を前記励磁電流の前記周波数ごとにそれぞれ検出し、 前記軸受の使用前後における前記励磁電流の前記周波数ごとの前記出力電圧の差である第1差分を算出し、隣接して設定される周波数間における前記第1差分同士の差である第2差分を算出し、軸受の深さ方向の使用前後の組織変化の度合いに基づく前記第2差分の値を用いて、前記軸受の残存寿命を予測する軸受の残存寿命予測方法。
IPC (2件):
G01M 13/04 ( 200 6.01) ,  G01N 27/72 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01M 13/04 ,  G01N 27/72
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開昭60-021445
審査官引用 (1件)
  • 特開昭60-021445
引用文献:
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