特許
J-GLOBAL ID:201603020210177649

計測方法及び計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 小谷 悦司 ,  小谷 昌崇 ,  西谷 浩治
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-260595
公開番号(公開出願番号):特開2014-104913
特許番号:特許第5969906号
出願日: 2012年11月29日
公開日(公表日): 2014年06月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】 凸部が形成されたタイヤのトレッド面又はサイドウォール面を計測面とし、前記計測面の表面形状を計測する計測方法であって、 前記計測面にスポット光源からのスポット光を照射し、前記スポット光を主走査方向に走査させて反射光を受光して1ラインの計測データを取得する計測処理を、前記スポット光を副走査方向にずらしながら複数回実行し、複数の計測データを取得する第1計測ステップと、 前記複数の計測データのそれぞれから1次元高さデータを生成し、生成した複数の1次元高さデータをマトリックス状に配列し、前記計測面の2次元高さデータを生成する第1取得ステップと、 前記2次元高さデータから輪郭抽出フィルタを用いて前記凸部の輪郭を抽出し、抽出した輪郭で囲まれた領域を前記凸部として抽出し、抽出した凸部の位置を前記2次元高さデータに対応付け、基準形状データを生成する生成ステップとを備え、 前記生成ステップでは、前記2次元高さデータの各位置の高さデータから前記凸部を除く背後領域の各位置の高さデータの平均値又は中央値を前記背後領域の基準値として求め、前記凸部の各位置の高さデータから前記基準値を減じることで、前記凸部の各位置の高さ成分を生成し、前記生成した高さ成分を前記二次元高さデータに対応付け、 計測対象となる対象タイヤの前記計測面に対し、前記計測処理を実行し、前記1ラインの計測データを取得する第2計測ステップと、 前記第2計測ステップにより取得された計測データに基づき、1次元高さデータを生成する第2取得ステップと、 前記第2取得ステップにより取得された1次元高さデータである対象1次元高さデータと、前記対象1次元高さデータに対して前記副走査方向の位置が同一である前記基準形状データの1次元高さデータとを比較し、前記対象1次元高さデータから前記凸部の高さ成分を除去する除去ステップとを更に備え、 前記除去ステップでは、前記副走査方向の位置が同一である前記基準形状データの1次元高さデータから前記対象1次元高さデータにおける凸部の領域を特定し、特定した凸部の各位置の高さデータから高さ成分を減じることで、前記対象1次元高さデータから前記凸部を除去する計測方法。
IPC (2件):
G01B 11/24 ( 200 6.01) ,  B60C 19/00 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01B 11/24 A ,  B60C 19/00 H
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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