特許
J-GLOBAL ID:201603020627037246
二次電池の短絡検査方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
安部 誠
, 大井 道子
, 山根 広昭
, 矢野 寿一郎
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2012069187
公開番号(公開出願番号):WO2014-016956
出願日: 2012年07月27日
公開日(公表日): 2014年01月30日
要約:
二次電池を所定の充電電流密度で第一のSOCまで充電し、前記第一のSOCよりも小さい第二のSOCまで、前記充電電流密度と同程度の放電電流密度で放電し、前記放電後の二次電池の電池温度の±3°Cの範囲内で維持した状態で、所定時間放置して電圧を安定化し、前記電圧安定化後の二次電池を常温下で自己放電させて、所定時間後の電圧低下量に基づいて短絡の有無を検出する。これにより、短絡検査前に二次電池の電圧の跳ね上がりによる電圧上昇を抑え、二次電池の電圧低下量を高感度に検出でき、短絡検査に要する時間を短縮化できる。また、常温下で短絡検査を行うことで、設備コストの増加を抑えることができる。
請求項(抜粋):
二次電池を所定の充電電流密度で第一のSOCまで充電し、
前記第一のSOCよりも小さい第二のSOCまで、前記充電電流密度と同程度の放電電流密度で放電し、
前記放電後の二次電池の電池温度の±3°Cの範囲内で維持した状態で、所定時間放置して電圧を安定化し、
前記電圧安定化後の二次電池を常温下で自己放電させて、所定時間後の電圧低下量に基づいて短絡の有無を検出することを特徴とする二次電池の短絡検査方法。
IPC (4件):
G01R 31/36
, H01M 10/44
, H01M 10/48
, H02J 7/00
FI (4件):
G01R31/36 A
, H01M10/44 P
, H01M10/48 P
, H02J7/00 Q
Fターム (20件):
2G016CB00
, 2G016CB05
, 2G016CB23
, 2G016CC01
, 2G016CC04
, 2G016CC23
, 2G016CF03
, 5G503BA01
, 5G503BB01
, 5G503CA11
, 5G503CB11
, 5G503DA04
, 5G503EA05
, 5G503EA09
, 5G503GD03
, 5G503GD06
, 5H030AA09
, 5H030BB03
, 5H030FF43
, 5H030FF44
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