特許

J-GLOBAL ID：201603020988283020

チップ電子部品の検査方法および検査装置

発明者： 林 央人
出願人/特許権者： 株式会社ヒューモラボラトリー
代理人 (1件)： 柳川 泰男
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013068857
公開番号（公開出願番号）：WO2014-010623
出願日： 2013年07月10日
公開日（公表日）： 2014年01月16日
要約：

【課題】二台以上の検査器を用いて大量のチップ電子部品の電気特性を高速に且つ高精度にて検査する方法を提供すること。【解決手段】それぞれ同一の規格に基づいて所定の同一の電気特性を示すように製造された二以上の検査対象のチップ電子部品を互いに近接して配置した状態で該チップ電子部品のそれぞれに互いに独立した検査器を電気的に接続する工程、そして各検査器から、それぞれのチップ電子部品に互いに同一もしくは略同一の周波数を持つ検査用電圧を印加し、この検査用電圧の印加により各チップ電子部品にて発生する電流値を各検査器で検出する工程を含む、検査対象の各チップ電子部品の電気特性の検査を行うチップ電子部品の検査方法であって、各検査器からの各チップ電子部品への検査用電圧の印加を互いに重複することのない時期に行うことを特徴とするチップ電子部品の検査方法。

請求項（抜粋）：

それぞれ同一の規格に基づいて所定の同一の電気特性を示すように製造された二以上の検査対象のチップ電子部品を互いに近接して配置した状態で該チップ電子部品のそれぞれに互いに独立した検査器を電気的に接続する工程、そして各検査器から、それぞれのチップ電子部品に互いに同一もしくは略同一の周波数を持つ検査用電圧を印加し、この検査用電圧の印加により各チップ電子部品にて発生する電流値を各検査器で検出する工程を含む、検査対象の各チップ電子部品の電気特性の検査を行うチップ電子部品の検査方法であって、各検査器からの各チップ電子部品への検査用電圧の印加を互いに重複することのない時期に行うことを特徴とするチップ電子部品の検査方法。

IPC (1件)：

G01R 31/00

FI (1件)：

G01R31/00

Fターム (6件)：

2G036AA03 ,  2G036AA04 ,  2G036BB01 ,  2G036BB02 ,  2G036BB22 ,  2G036CA03