特許
J-GLOBAL ID：201603021038435815
半田印刷機及び半田印刷機のマスクの汚れ検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
藤井 兼太郎
, 鎌田 健司
, 前田 浩夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-221980
公開番号（公開出願番号）：特開2014-073628
特許番号：特許第5919478号
出願日： 2012年10月04日
公開日（公表日）： 2014年04月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 パターン孔を有するマスクを基板に接触させ、前記マスク上でスキージを摺動させて前記マスク上の半田を掻き寄せることにより、前記パターン孔を介して前記基板に半田を転写させた後、前記マスクから前記基板を離間させて前記基板に半田を印刷する半田印刷機であって、
前記基板に半田を印刷した後の前記マスクの前記パターン孔を含む領域を検査部位とし、その検査部位を前記マスクに対する垂直方向である第1の方向より照明する第1の照明手段と、
前記検査部位を前記マスクに対する垂直方向から傾きを持った第2の方向より照明する第2の照明手段と、
前記検査部位が前記第1の照明手段により照明されている状態で前記検査部位を撮像することにより、前記検査部位内の前記パターン孔の周りに付着した半田及びその半田の内部の領域をその他の領域と区別することが可能な第1の画像を取得するとともに、前記検査部位が前記第2の照明手段により照明されている状態で前記検査部位を撮像することにより、前記検査部位内の半田の領域をその他の領域と区別することが可能な第2の画像を取得する撮像手段と、
前記撮像手段による撮像によって取得された前記第1の画像と前記第2の画像を重ね合わせた重ね合わせ画像を取得し、その取得した前記重ね合わせ画像における前記パターン孔の開口領域を対象領域としてその面積を算出し、その算出した面積を予め定めた基準面積と比較して前記検査部位内における前記各パターン孔の周りの半田の状態を検出する半田状態検出手段とを備えたことを特徴とする半田印刷機。
IPC (3件)：
B41F 15/14 ( 200 6.01)
, B41F 15/08 ( 200 6.01)
, H05K 3/34 ( 200 6.01)
B41F 15/14 C
, B41F 15/08 303 E
, H05K 3/34 505 D
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (9件)
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