抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本論文では,既知の解が到達できないことを性能の上限を示して零ビット電子透かし方式の設計に関するさらなる研究を動機づけすることを目的とした。この目的のために,サイド情報を用いたコスタリカの理論的根拠をzerobit電子透かしにより導出した誤り指数特性の上限。三つのスキームを考慮した:元々Coxらが提案し,Merhavらの論文で改善された二重円錐検出領域,ISS(改善されたスペクトル拡散),ZATT(零引力)。はある条件で後者は最初のものよりも優れていることを,問題は最適性はMerhavらの主張が判明した。それにもかかわらず,主な結論は,これらの方式は,実用的な関心領域の上限から遠く離れた一般的にすることである。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】