抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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Bernoulli試験と非適応グループ試験を考察し,各項目はいくつかの一定の確率で独立に各試験内に設置された。最適Bernoulli試験下の欠陥集合を発見するために必要なテストの最大数のタイトなしきい値を与えた。達成可能性はScarlettとCevherの結果によって与えられるここでは逆結合この結果は最良可能であることを示した。著者らの新しい逆は三つの部分:自明な計数結合典型性結合した一般化,ChanらのCOMPアルゴリズムに逆,Aldridge,Baldassini,Johnsonによって与えられるものに類似したSSSアルゴリズムの限界を必要とする。著者らの結果は,多くの重要な系である,特に,より高密度の場合,Bernoulli非適応グループ試験が最良適応戦略よりも厳密に悪いことを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】