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J-GLOBAL ID：201702210678701833   整理番号：17A0401700

ソフトウェアベース再試行を用いたパリティベースソフトエラー検出の経験的結果【Powered by NICT】

Empirical results on parity-based soft error detection with software-based retry

著者 (3件)： Aydos Gokce (University of Bremen, Bremen, Germany) ,  Fey Goerschwin (University of Bremen, Bremen, Germany) ,  Fey Goerschwin (German Aerospace Center, Bremen, Germany)
資料名： Microprocessors and Microsystems  (Microprocessors and Microsystems)
巻： 48  ページ： 62-68  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0781A  ISSN： 0141-9331  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 局所三重モジュラー冗長性(TMR)の適応,手技,宇宙における放射線誘発bitflipsに対するフラッシュベースFPGA応用のFFを硬化させる第一選択であることが多いが,LTMRは約300%の面積オーバヘッドをもたらす。この大きなオーバーヘッドに対処するために,ベースアプローチ誤り検出を提案した。本研究では,ソフトウェアベース再試行とパリティベース誤り検出,および最大周波数,面積オーバヘッドと処理時間に関する参照アーキテクチャにLTMRを比較した。著者らの結果は,提案した解決策はLTMRによる面積オーバーヘッドの36%までをパリティベース誤り検出節約に基づいて29%からことを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 誤り検出 ,  宇宙空間 ,  周波数 ,  *パリティ ,  放射線 ,  加工時間 ,  FPGA ,  計算機アーキテクチャ ,  冗長性

著者キーワード (6件)： フォールトトレランス ,  FPGA ,  LTMR ,  パリティ ,  的なエラー検出 ,  再試行

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： ソフトウェア ,  再試行 ,  経験