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J-GLOBAL ID：201702210736966009   整理番号：17A1994659

複合パワーサイクル試験による製品の弱点早期検出

著者 (2件)： 石津勝之 (村田製作所) ,  西川弘晃 (金沢村田製作所)
資料名： 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集  (Proceedings of Autumn Symposium on Reliability)
巻： 30th  ページ： 59-62  発行年： 2017年11月27日 
JST資料番号： L5548A  ISSN： 2424-2357  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 市場故障を未然に防止するためには,設計・開発の出来る限り早い段階で製品の弱点を検出し,対策を施すことが重要となる。長期使用により,はんだクラックとFETのショートの2つの故障モードが発生したモジュール製品を使用し,製品の弱点を早期検出する試験を検討した。これらの故障の要因は,製品の実使用環境の温度変化ストレスと,製品の駆動による自己発熱ストレスにあると考え,熱衝撃試験とパワーサイクル試験を組み合わせた複合ストレス試験,複合パワーサイクル試験を実施した。その結果,短時間で2つの故障を再現することができるようになった。(著者抄録)

シソーラス用語： *はんだ付 ,  *亀裂発生 ,  *FET【トランジスタ】 ,  *短絡【電気】 ,  *故障モード ,  温度変動 ,  加熱 ,  *熱衝撃試験 ,  *サイクル ,  *寿命試験 ,  *信頼性試験 ,  故障検出 ,  表面温度 ,  熱応力 ,  X線検査 ,  ラジオグラフィー ,  接合部 ,  発熱
準シソーラス用語： 自己発熱 ,  パワーサイクル試験 ,  X線透視

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： パワー ,  サイクル試験 ,  早期