文献

J-GLOBAL ID：201702210848758406   整理番号：17A1467716

新しい検査システムにおけるカラー欠陥判定

Color Defect Classification by New Inspection System

著者 (2件)： 正田秀一 (アメテック) ,  黒崎篤 (アメテック)
資料名： 紙パ技協誌  (紙パルプ技術協会誌)
巻： 71  号： 11  ページ： 1317-1320  発行年： 2017年11月01日 
JST資料番号： G0115A  ISSN： 0022-815X  CODEN： KAGIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： アメテック・サーフェースビジョンはこのたび,カラー・ラインカメラを搭載した欠陥検査システム「SmartView7.2C」をリリースした。日本国内の紙パルプ業界では,カラーにもとづいた検査要求が年々増しており,当社はユーザーの意向を受けてカラー・ラインカメラによる欠陥検査システム(以下,カラー欠陥検査システムと呼ぶ)を開発するに至った。カラー欠陥検査システムの利点としては,欠陥のカラー判定が可能となり,モノクロ・カメラでは困難であった欠陥の検査能力(検出および欠陥分類)を向上させる効果がある。また,欠陥画像がカラー画像となるため,より目視に近い状態で欠陥画像を確認することが可能となり,オペレータが直感的に欠陥の状態や発生原因を推測することが容易となる。(著者抄録)

シソーラス用語： *表面欠陥 ,  *欠陥検査 ,  *カラー画像 ,  分類 ,  *画像特性 ,  指標 ,  精度 ,  ライブラリ【計算機】 ,  測色 ,  *学習 ,  パターン分類 ,  生産工程 ,  工程管理 ,  *画像処理システム ,  *製紙用パルプ
準シソーラス用語： *欠陥分類 ,  *画像特徴 ,  *画像特徴量 ,  分類精度 ,  *分類学習 ,  *画像検査システム ,  パルプ製造

分類 (3件)： 品質検査  (KB04020L) ,  パターン認識  (JE07000S) ,  各種パルプの製造  (YL02020P)

タイトルに関連する用語 (3件)： 検査システム ,  カラー ,  欠陥