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J-GLOBAL ID:201702210935183951   整理番号:17A1085512

TOF-SIMSパラレルイメージングMS/MSのための新しい方法と質量分析計設計

A New Method and Mass Spectrometer Design for TOF-SIMS Parallel Imaging MS/MS
著者 (7件):
資料名:
巻: 88  号: 12  ページ: 6433-6440  発行年: 2016年06月21日 
JST資料番号: A0395A  ISSN: 0003-2700  CODEN: ANCHAM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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TOF-SIMSの二次イオン流からの前駆体イオンが,同位体別に選別され,生成物イオンが平行に同期して得られる,タンデムMSイメージングに基づく,新しいTOF-SIMSパラレルイメージングMS/MSが開発された。クリスタルバイオレット,雄キンカチョウの脳組織,ゼブラフィッシュの全魚体,エルカアミドの各試料について薄片試料が調製され,それらのナノメータスケールの表面分析が行われ,分子同定が行われた。低い密度のイオン照射量によって,高い存在量感度が実現されており,イオンビームに誘起される分子損傷が起こる前に,特殊な試料の表面組成が分析されるものと思われる。
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分類 (1件):
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質量分析 
タイトルに関連する用語 (4件):
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