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J-GLOBAL ID:201702212013271527   整理番号:17A1727252

行列指数法による過渡デバイスシミュレーションの時間ステップを制御するための正確な計量【Powered by NICT】

An accurate metric to control time step of transient device simulation by matrix exponential method
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: SISPAD  ページ: 37-40  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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パワーデバイス過渡シミュレーションにおける時間ステップ制御のための正確な計量を提案した。計量は,行列指数法により得られた全素子構造の支配的な時定数の指数関数項を含んでいる。過渡応答の主要な部分に焦点を当てたので提案した計量は,局所打ち切り誤差の2~nd次近似の従来計量よりもより大きな時間ステップ幅を可能にし,その打切り誤差近似がより正確であった。提案した方法を用いてシリコンパワーDMOSFETの過渡シミュレーションの全CPU時間が支配的過渡応答の電流精度を保証する従来の計量の30%まで減少した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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