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J-GLOBAL ID：201702212250710989   整理番号：17A1021779

化学蒸気発生と容量結合アルゴンマイクロ波小型プラズマ放電を集積した小型光発光分析によるAs,Sb,SeとHgのこん跡定量【Powered by NICT】

Trace determination of Hg together with As, Sb, Se by miniaturized optical emission spectrometry integrated with chemical vapor generation and capacitively coupled argon microwave miniplasma discharge

著者 (2件)： Matusiewicz Henryk (Faculty of Chemical Technology, Poznan University of Technology, Poznan 60-965, Poland) ,  Slachcinski Mariusz (Faculty of Chemical Technology, Poznan University of Technology, Poznan 60-965, Poland)
資料名： Spectrochimica Acta. Part B. Atomic Spectroscopy  (Spectrochimica Acta. Part B. Atomic Spectroscopy)
巻： 133  ページ： 52-59  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0793A  ISSN： 0584-8547  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試料導入のための励起光源として容量結合アルゴンマイクロ波マイクロプラズマ(μCMP)と化学蒸気発生(CVG)と小型化発光分光計(OES)を,痕跡量のHg,As,Sb及びSeの定量のために構築した。適用した方法は,水素化物生成元素(As, Sb, Se)と揮発性Hgの同時定量を可能にした。As,Sb及びSeの水銀冷蒸気及び水素化物揮発性種は標準または試料溶液は,それらの原子発光の容量結合マイクロ波マイクロプラズマと検出への輸送のための液体相から分離した時に生成した。単変量アプローチとシンプレックス最適化手続きについて,最適条件を達成し,利点の分析的図を導くために用いた。同時定量濃度ブランクの標準偏差(LOD,3σ_blank基準,ピーク高さ)の三倍に等しい信号を与えると計算のための実験的濃度検出限界(LODs)は,Hg,As,Sb及びSeの3.0と1.4と1.5と3.8ngmLた~( 1)であった。法の場合は,異なるマトリックス組成の三認証標準物質(NIST 2711, NRCC DOLT 2, NIST 1643e)の分析および標準添加法によって検証した。法はマイクロサンプリング(200μL)分析のための比較的良好な精度(RSDが5%から8%の範囲であった)を提供した。認証標準物質中の元素の含有量の測定は,95%の信頼水準では,Studentのt検定によれば,認証値(Hg1.99 6 25μgg 1~( 1),As16.6 105μg/g~( 1),Sb19.4 56 0.88μgg 1~( 1),Se1.52 11 0.68μgg 1~( 1))と良く一致した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ヒ素 ,  認証標準物質 ,  *発光 ,  *アルゴン ,  *セレン ,  標準偏差 ,  同時定量 ,  *マイクロ波 ,  最適化 ,  水素化物 ,  *水銀 ,  *プラズマ ,  検出限界
準シソーラス用語： *容量結合 ,  *化学蒸気発生 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 容量結合アルゴンマイクロ波小型プラズマ ,  化学蒸気発生 ,  マイクロリットル試料導入 ,  発光minispectrometer ,  認定基準材料

分類 (4件)： 無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H) ,  抽出  (CC01040H) ,  水中の汚染物質の物理分析  (CC03080N) ,  分光分析  (CC03012W)

タイトルに関連する用語 (12件)： 化学蒸気発生 ,  容量結合 ,  アルゴン ,  マイクロ波 ,  プラズマ放電 ,  集積 ,  発光分析 ,  Sb ,  Se ,  Hg ,  こん跡 ,  定量