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J-GLOBAL ID：201702212253985437   整理番号：17A1317705

改良CAF-WASに基づく結合前ケイ素ビア試験【JST・京大機械翻訳】

CAF-WAS based pre-bonding TSV testing

著者 (6件)： Bian Jingchang (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Liang Huaguo (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥230009;合肥工業大学計算机与信息学院,安徽合肥230009) ,  Nie Mu (合肥工業大学計算机与信息学院,安徽合肥,230009) ,  Ni Tianming (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Xu Xiumin (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Huang Zhengfeng (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009)
資料名： Jisuanji Gongcheng Yukexue  (Jisuanji Gongcheng Yukexue)
巻： 39  号： 3  ページ： 430-435  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2938A  ISSN： 1007-130X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： シリコンオンホールTSVの開回路故障と漏れ故障は三次元集積回路の信頼性と良い率を低下させるため、結合前のTSVテストは特に重要である。既存のCAF-WAS試験法による漏れ故障の試験は他の方法(リング発振器など)より優れているが、欠点はこの方法が開回路故障を測定できないことである。既存のCAF-WAS法により,開回路故障を試験することができないという問題を解決するために,擬似漏れ経路のアイデアを提案した。また、待ち時間発生回路を再設計し、試験時間のコストを低減し、HSPICEシミュレーション結果により、この方法は開回路と漏れ故障の範囲を正確に予測でき、テスト時間のコストは既存の同類方法の25%にすぎないことを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 開路 ,  シミュレーション ,  故障 ,  リング発振器 ,  *ケイ素 ,  待ち時間 ,  *ビール ,  再設計
準シソーラス用語： HSPICE ,  試験方法 ,  三次元集積化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： three-dimensional integrated circuits ,  TSV ,  self-test ,  false leakage path ,  open defect

分類 (2件)： 電力変換器  (NB08030B) ,  電動機  (NB07030U)

タイトルに関連する用語 (2件)： ケイ素 ,  試験