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J-GLOBAL ID:201702212585653793   整理番号:17A1546353

熱拡散率測定における強力パルスイオンビームとその可能な適用により誘発された温度場【Powered by NICT】

Thermal field induced by intense pulsed ion beam and its possible application in thermal diffusivity measurement
著者 (22件):
資料名:
巻: 409  ページ: 338-342  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0899A  ISSN: 0168-583X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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型フラッシュ加熱源,強力パルスイオンビーム(IPIB)はターゲットの表面近傍領域における強い熱効果を誘導する。レーザと比較して,IPIBのエネルギー堆積効率は有意に高く,ターゲットの光学的性質に及ぼす依存性であった。物質中のイオンの飛程は加速電圧を調整することにより,より柔軟に変えることができた。IPIBを材料の熱拡散率の測定のためのフラッシュ法のパルス加熱源のための理想的な候補である。本研究では,磁気絶縁ダイオード(MID)により生成されたIPIBとフラッシュ法の数値的検証を行った。誘起熱場の特徴を調べることにより,エネルギー百keVのと断面エネルギー密度いくつかcm~2の陽子と炭素イオンから成るIPIBはフラッシュ法による熱拡散率の測定に使用できることを実証し,実験パラメータの最適化の原理を考察した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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金属の放射線による構造と物性の変化 
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