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J-GLOBAL ID:201702213175797976   整理番号:17A1524570

近接場散乱に基づく粒径分布測定【JST・京大機械翻訳】

Particle size distribution measurement based on near field scattering
著者 (4件):
資料名:
巻: 43  号:ページ: 381-387  発行年: 2017年 
JST資料番号: C2402A  ISSN: 1001-5965  CODEN: BHHDE8  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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従来の前方小角散乱粒子径測定システムの中心光が強すぎ、迷光干渉が小さく、散乱角が小さいなどの欠点に対して、本論文では、新しい近接場散乱(NFS)方法を用いて、前方小角散乱光を測定し、近接場散乱に基づく粒径測定システムを研究した。最大散乱角は40.5°に増加した。透過光と散乱光によって干渉したスペックル画像を,ブランク測定なしで差分法により処理し,中心光と迷光の影響を除去した。差分スペックル画像の高速Fourier変換(FFT)スペクトル処理を用いて散乱強度分布を得て、Chahineアルゴリズムを利用して粒子の粒径に対してインバージョンを行った。最後に,既知の粒径(39.2μmと67.3μm)の標準粒子を用いて,測定システムの正確さを確認し,測定誤差は5%以内であった。粒子サイズが39.2μmと67.3μmの混合粒子に対して、二峰分布の検証を行い、43.3μmと74.1μmにピークが現れ、測定誤差は10%前後であった。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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光学的測定とその装置一般 
タイトルに関連する用語 (3件):
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