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J-GLOBAL ID：201702213228886073   整理番号：17A1338785

スマートモバイルデバイスのためのフリンジ反射法検出システム【JST・京大機械翻訳】

Deflectometry measurement system forsmart mobile devices

著者 (4件)： Ji Yi (中国科学院 長春光学精密机械与物理研究所 光学系統先進制造技術中国科学院重点実験室,吉林 長春,130033) ,  Zhang Xuejun (中国科学院 長春光学精密机械与物理研究所 光学系統先進制造技術中国科学院重点実験室,吉林 長春,130033) ,  Yuan Ting (中国科学院 長春光学精密机械与物理研究所 光学系統先進制造技術中国科学院重点実験室,吉林 長春,130033) ,  Tao Xiaoping (中国科学院 長春光学精密机械与物理研究所 光学系統先進制造技術中国科学院重点実験室,吉林 長春,130033)
資料名： Zhongguo Guangxue  (Zhongguo Guangxue)
巻： 10  号： 2  ページ： 267-279  発行年： 2017年 
JST資料番号： C3067A  ISSN： 2095-1531  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： ストライプ反射法は構造が簡単な三次元形状検出手段であり、本論文では、この方法の知能携帯電話、平板などの移動設備における集成と応用について研究した。まず第一に,ストライプ反射法のキャリブレーション誤差とインテリジェント装置の特性を分析した。次に,実際の検出における重要な誤差を分析することに基づいて,カメラの非線形スケーリング,位相シフトアルゴリズム,格子点標定,およびカメラ自動利得調整のような一連の方法とアルゴリズムを提案して,装置の既存のハードウェア条件の下で測定精度と安定性を改善した。最終的に,105mmの直径を有するSiC反射面を,iPad Airを用いて実験した。結果により,キャリブレーション精度がミリメートルのとき,反射面の検出精度RMS値は33μmに達し,低周波数誤差を主とし,局部高周波領域での検出結果は明らかな優位性があり,他の外部設備を使用しないことを証明した。スマートプレートに集積されたストライプ反射法は数十ミクロンの精度の検出能力を備えている。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 携帯電話 ,  アルゴリズム ,  測定精度 ,  LF【周波数】 ,  標定 ,  炭化ケイ素 ,  カメラ ,  HF【周波数】 ,  利得制御 ,  *反射面 ,  位相シフト ,  ハードウェア
準シソーラス用語： 検出能 ,  検出精度 ,  三次元形状 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： shape measurement ,  optical testing ,  fringe reflection ,  portable device

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (2件)： モバイルデバイス ,  検出システム