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J-GLOBAL ID:201702214122444258   整理番号:17A1565651

Zr基金属ガラスにおけるせん断帯厚さとせん断帯共振器【Powered by NICT】

Shear-band thickness and shear-band cavities in a Zr-based metallic glass
著者 (4件):
資料名:
巻: 140  ページ: 206-216  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0316A  ISSN: 1359-6454  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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金属ガラスにおけるせん断帯への歪局所化は,典型的には,ナノスケールで起こる機構として記述される10 20nmの厚さのせん断欠陥を残した。ここでは,高角度環状暗視野走査透過電子顕微鏡(HAADF STEM)と高エネルギーX線トモグラフィー(XRT)の全塑性流動を運んできたことを単一の系-スパニングせん断帯の構造を選定した。剪断帯厚さとマトリックスへの相対密度変化は,せん断帯に沿った位置に敏感に依存することが分かった。剪断帯厚さ(10 nm 210 nm)と密度変化( 1%~ 12%)の広範な分布を明らかにした。剪断帯厚さと密度変化の間に明らかな相関はないが,大きな厚さは典型的には高い密度変化に対応している。剪断帯面上で同定された100以上のミクロンサイズの剪断帯共振器と,それらの三次元配置は,剪断面の強く変動する局所的な曲率を示唆した。これらの知見は,単純なナノスケール平面欠陥よりもせん断帯のより複雑な見解を促す。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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