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J-GLOBAL ID：201702214716103911   整理番号：17A1195699

VAM/VAM32試験器の開発

著者 (1件)： 辻輝 (西日本電気テック)
資料名： 鉄道と電気技術  (Railway & Electrical Engineering)
巻： 28  号： 10  ページ： 57-58  発行年： 2017年09月30日 
JST資料番号： F0245B  ISSN： 0915-9231  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 踏切保安装置の動作状態の確認や故障時の部位の早急な特定に不可欠な情報メモリの状態を診断する検査装置VAM/VAM32試験器の開発について概述した。現用の検査方法では,情報メモリが正常に動作しているか否かは電源表示灯LEDおよび出力LEDの点灯・点滅に基づき判断しているが,この程度の情報では,情報メモリの内部状態が確認できず,異常が検出できない怖れがある。本開発では,情報メモリに対する検査品質の向上を目指して,VAM試験機の開発に取組んだ。新たに開発された機能では,時計の修正とVAMのデータを読込み,記憶データの条件変化の確認をすることができる。操作の例を示した。

シソーラス用語： *鉄道保安装置 ,  監視 ,  *故障診断 ,  *記憶装置 ,  データ解析
準シソーラス用語： *踏切保安装置 ,  状態監視 ,  異常検出

分類 (1件)： 信号,保安  (TC01040Y)

タイトルに関連する用語 (2件)： 試験 ,  開発