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J-GLOBAL ID:201702214908221797   整理番号:17A1781725

集積回路のEMC試験のための改良されたTEMセル【Powered by NICT】

Improved TEM-cell for EMC tests of integrated circuits
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: SIBIRCON  ページ: 399-402  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,5GHzまでの周波数範囲における集積回路の放射感受性とエミッションに及ぼす試験に使用できる,TEMセルの構築を提示した。古典的収縮と比較して,提案したTEMセルの構造的特徴と利点について述べた。建設の電気力学シミュレーションを完了し,反射511と透過S_21係数の大きさの周波数依存性の解析の結果を示した。シミュレーションの結果は,考慮した周波数範囲で50Ωフィーダ(S_11≦ 20dB),低損失(S_21≧ 3dB)と良い一致を示した。試験体積中の電場強度の不均一性の評価を提示した。その値は30×30×5mm~3の試験量の±3dBを超えることはない。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  ,  集積回路一般 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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