文献

J-GLOBAL ID：201702215931878203   整理番号：17A0271860

FeOx促進Ir/SiO₂触媒のXAFS(X線吸収微細構造)解析

XAFS Analysis of FeOx promoted Ir/SiO₂ Catalysts

著者 (3件)： BANDO Kyoko K. (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  ICHIKUNI Nobuyuki (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  LU Ji-Qing (Zhejiang Normal Univ., Jinhua, CHN)
資料名： KEK Progress Report (Web)  (KEK Progress Report (Web))
号： 2016-8  ページ： ROMBUNNO.56 (WEB ONLY)  発行年： 2017年01月 
JST資料番号： U0583A  ISSN： 1344-6320  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 促進 ,  Ir ,  SiO2 ,  触媒 ,  XAFS ,  X線吸収微細構造 ,  解析