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J-GLOBAL ID：201702217462898079   整理番号：17A1457948

ガスと真空環境下での複合酸化物のその場X線光電子分光研究【Powered by NICT】

In situ X-ray photoelectron spectroscopy study of complex oxides under gas and vacuum environments

著者 (10件)： Paloukis F. (Institut de Chimie et Procedes pour l’Energie, l’Environnement et la Sante, UMR 7515 CNRS-UdS 25 Rue Becquerel, 67087 Strasbourg, France) ,  Papazisi K.M. (Chemical Process and Energy Resources Institute/CERTH, 6th km Charilaou-Thermi Rd., 57001 Thessaloniki, Greece) ,  Balomenou S.P. (Chemical Process and Energy Resources Institute/CERTH, 6th km Charilaou-Thermi Rd., 57001 Thessaloniki, Greece) ,  Tsiplakides D. (Chemical Process and Energy Resources Institute/CERTH, 6th km Charilaou-Thermi Rd., 57001 Thessaloniki, Greece) ,  Tsiplakides D. (Department of Chemistry, Aristotle University of Thessaloniki, 54124 Thessaloniki, Greece) ,  Bournel F. (Laboratoire de Chimie Physique-Matiere et Rayonnement, Sorbonne Universites-UPMC Univ Paris 06-CNRS,4 place Jussieu, 75005 Paris, France) ,  Bournel F. (Synchrotron-Soleil, L’orme des Merisiers, Saint Aubin-BP48 91192, Gif-sur-Yvette Cedex, France) ,  Gallet J.-J. (Laboratoire de Chimie Physique-Matiere et Rayonnement, Sorbonne Universites-UPMC Univ Paris 06-CNRS,4 place Jussieu, 75005 Paris, France) ,  Gallet J.-J. (Synchrotron-Soleil, L’orme des Merisiers, Saint Aubin-BP48 91192, Gif-sur-Yvette Cedex, France) ,  Zafeiratos S. (Institut de Chimie et Procedes pour l’Energie, l’Environnement et la Sante, UMR 7515 CNRS-UdS 25 Rue Becquerel, 67087 Strasbourg, France)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 423  ページ： 1176-1181  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 数十年間多くのX線光電子分光法(XPS)研究における未解決の問題は,超高真空(UHV)中で得られた結果は,ガス雰囲気中で試料状態を代表するかどうかである。結果として,近常圧X線光電子分光法(NAP XPS)は気体-固体相互作用のin situ特性化のための重要なツールとしての表面科学者によって受けた。しかし,少しであっても,このガスを真空にするときガスと接触して形成された表面状態を修正するかはまだ明らかではない。本研究では,Ni/イットリア安定化ジルコニアサーメットとLa_0 0.75Sr_0 0.25Cr_0 9Fe_0 1O_3ペロブスカイトの300°Cで記録されたシンクロトロンXPSの結果,3.5mbar O_2とUHV環境下で比較した。O_2中に形成された表面状態は真空下でかなりの程度まで維持されていることを見出した。添加では,二条件で記録したXPSスペクトルの相関は,これらの複雑な酸化物の特定表面サイトの電気伝導率に関する情報を提供できることを示した。著者らの知見は,ガス中および真空環境におけるXPS測定の比較は,表面での電子伝導率が重要な役割を果たし,例えば固体酸化物電気化学デバイスでのような応用において特に有用であることを示唆した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 超高真空 ,  サーメット ,  X線光電子スペクトル ,  *酸化物 ,  相互作用 ,  *X線光電子分光法 ,  電気伝導率 ,  キャラクタリゼーション ,  シンクロトロン
準シソーラス用語： 電気化学デバイス ,  固体酸化物 ,  電子伝導率 ,  YSZ【セラミック】 ,  表面科学 ,  常圧 ,  *複合酸化物 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 付近大気圧X線光電子分光法 ,  固体酸化物電気化学電池 ,  化学状態 ,  Perovskites ,  Ni-YSZサーメット ,  電極

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (5件)： 真空 ,  環境 ,  複合酸化物 ,  X線光電子分光 ,  研究