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J-GLOBAL ID：201702217538699337   整理番号：17A1478549

表面電位顕微鏡(KFM)とMEMSピンセットを用いたトナー帯電偏在化の研究

Study on Toner Charge Inclination by Kelvin Force Microscopy and Microelectromechanical-based Actuated Tweezers

著者 (2件)： 山口大地 (株式会社リコー研究開発本部) ,  今野早紀 (株式会社リコー研究開発本部)
資料名： 日本画像学会誌  (Journal of Imaging Society of Japan)
巻： 56  号： 5  ページ： 489-496(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： G0323A  ISSN： 1344-4425  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： トナー表面のミクロな帯電分布は,画像形成プロセス中のトナー挙動の正確な制御のために,重要な課題である.一方で,その研究範囲は,付着力に対する理論的考察や,材料組成の寄与を調べるに留まり,電子写真プロセスのトナー帯電分布に与える影響については,十分な検討が成されていない.本稿では,表面電位顕微鏡(KFM)によるトナー表面帯電分布計測と,MEMSピンセットによるトナー1粒子の帯電量計測およびマニピュレーション技術とを組み合わせることで,放電現象が転写残トナーの帯電分布に与える影響を調べた.具体的には,転写電流による,表面電位分布と電荷中心の変化を解析することで,転写ニップ内の放電暴露の影響による,粒子表面上で電荷の偏在化を示唆する結果が得られた.(著者抄録)

シソーラス用語： 表面電位 ,  MEMS ,  *トナー ,  *帯電 ,  放電 ,  転写 ,  顕微鏡観察 ,  作業工具 ,  印刷 ,  片持梁 ,  操作 ,  *電子写真
準シソーラス用語： Kelvinプローブ力顕微鏡法 ,  ナノピンセット ,  マイクロマニピュレーション ,  電子写真印刷

著者キーワード (10件)： トナー ,  帯電 ,  ナノピンセット ,  表面電位顕微鏡 ,  放電 ,  Toner ,  Charge ,  Nanotweezers ,  Kelvin force probe microscope ,  Discharge

分類 (1件)： 各種写真法  (ZA03040M)

引用文献 (10件)：

• 1) Dan A. Hays, “Toner Adhesion,” The Journal of Adhesion, 51, pp. 41-48, (1995)
• 2) H. Iimura, H. Kurosu, and H. T. Yamaguchi, “Effects of an external additive on toner adhesion,” Journal of Imaging Science and Technology, 44, pp. 457-461, (2000)
• 3) S. Otomura, “SPM Analysis for Material Properties : Application of Surface Potential Microscopy for Microstructure Imaging of Toner Particles,” Journal of the Imaging Society of Japan, 42, pp. 363-370 (2003) [in Japanese]
• 4) T. Tada, “SPM niyoru ryuushi hyoumen taiden keisoku,” Toner gijutsu kenkyukai, The Imaging Society of Japan (2013) [in Japanese]
• 5) H. Okada, D. Shindo, J. J. Kim, Y. Murakami, and H. Kawase, “Triboelectricity evaluation of single toner particle by electron holography,” Journal of Applied Physics, 102, pp. 054908-1-054908-5, (2007)

タイトルに関連する用語 (7件)： 表面電位 ,  顕微鏡 ,  MEMS ,  ピンセット ,  トナー ,  帯電 ,  研究