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J-GLOBAL ID：201702218943466810   整理番号：17A0528563

部分再配置に基づくFPGAにおけるブロック暗号化のための試験方法を提案した。【JST・京大機械翻訳】

Testing Method of BRAM in FPGA Based on Partial Reconfiguration

著者 (3件)： Li Shenghua (State Key Laboratory of ASIC & System,Fudan University) ,  Wang Jian (State Key Laboratory of ASIC & System,Fudan University) ,  Lai Jinmei (State Key Laboratory of ASIC & System,Fudan University)
資料名： Fudan Xuebao. Ziran Kexue Ban  (Fudan Xuebao. Ziran Kexue Ban)
巻： 55  号： 6  ページ： 806-814  発行年： 2016年 
JST資料番号： W1451A  ISSN： 0427-7104  CODEN： FHPTAY  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： FPGAに埋め込まれたFPGABRAM資源の試験において,従来の方法には,故障の被覆率が高くなく,試験配置の数が多く,試験時間が長いという欠点がある。上述の問題に対して、本論文では、FPGA内のブロックコアを利用してチップ内の自動部分再配置機能を実現することによって、FPGA内のブロックコアのBIST試験方法を実現し、かつ余分な外既存の方法に基づいて,書き込み故障,読み込み故障,干渉結合故障,故障結合故障,読み込み破壊故障,および初期故障機能の故障をカバーし,改良アルゴリズムはプログラムの実行サイクル数を半分に減少さ同時に,複数のアルゴリズムを同じテスト配置に統合し,試験の完全性を低減し,試験時間を低減した。試験結果は,この方法が故障範囲において100%に達することができ,テストセットが2つの完全配置に減少することを示し,それらの中には13のアルゴリズムの内部自動再構成が含まData from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 再構成 ,  被覆率 ,  初期故障 ,  *FPGA ,  BIST ,  アルゴリズム ,  故障 ,  完全性 ,  干渉
準シソーラス用語： *試験方法 ,  *ブロック暗号 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： FPGA ,  BRAM ,  built-in-self-test ,  partial reconfiguration ,  ICAP

分類 (5件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y) ,  集積回路一般  (NC03161C) ,  符号理論  (ND02030R) ,  データ保護  (JD01020V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 再配置 ,  FPGA ,  暗号化 ,  試験方法 ,  提案