Kemper F. について
Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering (IOF), Albert-Einstein-Str. 7, D-07745 Jena, Germany. falk.kemper@iof.fraunhofer.de について
Beckert E. について
Eberhardt R. について
Tuennermann A. について
RSC Advances (Web) について
プラズモン について
ナノ粒子 について
形態 について
高分子膜 について
蛍光 について
光学フィルタ について
光学的性質 について
スペクトロスコピー について
波長 について
発光ダイオード について
走査電子顕微鏡 について
励起 について
ポリエチレンイミン について
銀イオン について
銀ナノ粒子 について
無機化合物一般及び元素 について
固体プラズマ について
光フィルタ について
ポリエチレンイミン について
薄膜 について
銀ナノ粒子 について
形態 について
光学的性質 について
発光ダイオード について