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J-GLOBAL ID：201702219221606337   整理番号：17A0414191

光単側波帯変調に基づく超高分解能光ベクトル解析【Powered by NICT】

Ultrahigh-Resolution Optical Vector Analysis Based on Optical Single-Sideband Modulation

著者 (2件)： Pan Shilong (Key Laboratory of Radar Imaging and Microwave Photonics, Ministry of Education, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics, Nanjing, China) ,  Xue Min (Key Laboratory of Radar Imaging and Microwave Photonics, Ministry of Education, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics, Nanjing, China)
資料名： Journal of Lightwave Technology  (Journal of Lightwave Technology)
巻： 35  号： 4  ページ： 836-845  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0922A  ISSN： 0733-8724  CODEN： JLTEDG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 大きさ,位相,分極応答を知ることは,光学素子の作製と応用にとって非常に重要である。挿入損失,分散,群遅延,偏光依存損失および偏光モード分散のようなパラメータの大きな多様性を,これらの応答に基づいて得ることができた。通常のアプローチでは,レーザ源の波長を掃引による光スペクトル応答を達成した。波長掃引レーザ光源の低波長精度と貧弱な波長安定性により制限される,光ベクトル分析器(OVA)の分解能は一般に不良である(>1.6 pm)。超高分解能測定を達成するために,光単一側波帯(OSSB)変調に基づくOVAを提案し,開発し,サブHz分解能を持つ可能性がある。しかし,電気-光及び光学-電気転化率は電気的周波数掃引を実行し,電気領域,スペクトル測定範囲,精度,ダイナミックレンジが制限される位相情報および大きさ情報を検出するために必要である。過去10年間に,これらの問題に対処するためになされてきた大きな努力。本論文では,高速OSSBベースOVAを構築するための技術は,測定システムのスペクトル測定範囲,精度,ダイナミックレンジを改善するためのシステムアーキテクチャと動作原理を中心に考察した。可能性のある将来の研究方向についても議論した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 計測システム ,  *側波帯 ,  偏光 ,  *ベクトル解析 ,  ダイナミックレンジ ,  挿入損 ,  位相 ,  高速度 ,  *分解能 ,  群遅延特性 ,  *SSB【信号】 ,  波長
準シソーラス用語： スペクトル測定 ,  周波数掃引 ,  *超高分解能 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (3件)： 単側波帯変調 ,  超高分解能 ,  ベクトル解析