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J-GLOBAL ID：201702219326459049   整理番号：17A1625585

二軸圧縮を受けるか粒破壊の解析【Powered by NICT】

Analysis of granule fracture under biaxial compression

著者 (7件)： Satone Hiroshi (Department of Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, University of Hyogo, 2167, Shosha, Himeji, Hyogo 671-2280, Japan) ,  Iimura Kenji (Department of Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, University of Hyogo, 2167, Shosha, Himeji, Hyogo 671-2280, Japan) ,  Teraoka Tsubasa (Department of Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, University of Hyogo, 2167, Shosha, Himeji, Hyogo 671-2280, Japan) ,  Hanafusa Taisuke (Department of Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, University of Hyogo, 2167, Shosha, Himeji, Hyogo 671-2280, Japan) ,  Hisatani Shuhei (Department of Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, University of Hyogo, 2167, Shosha, Himeji, Hyogo 671-2280, Japan) ,  Nishiwaki Masashi (Department of Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, University of Hyogo, 2167, Shosha, Himeji, Hyogo 671-2280, Japan) ,  Suzuki Michitaka (Department of Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, University of Hyogo, 2167, Shosha, Himeji, Hyogo 671-2280, Japan)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 43  号： 18  ページ： 16835-16842  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,二軸圧縮下での顆粒破壊の機構を実験とシミュレーション両方法により調べた。実験の結果,破壊挙動は圧縮軸の数に依存して異なることを示す。後者では圧縮か粒が平面変形できるので,二軸条件下での破壊荷重は一軸条件下のそれよりも小さいが,前者では圧縮か粒は圧縮されていない唯一の軸方向に変形することができた。この現象を詳細に調べるために,有限要素法(FEM)解析を用いて,顆粒内部引張応力を解析した。FEMシミュレーションの結果は,破壊現象における支配的な因子は粒の中心での引張応力であることを示した。これらの結果から,か粒の破壊の可能性を,困難な実験を行うことなく,理論的に予測する可能性がある。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 軸方向 ,  *二軸 ,  一軸 ,  シミュレーション ,  有限要素法 ,  引張応力 ,  *顆粒 ,  破壊荷重
準シソーラス用語： FEMシミュレーション ,  破壊挙動 ,  *軸圧縮 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： か粒強度 ,  か粒破壊 ,  二軸圧縮 ,  有限要素法

分類 (1件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 軸圧縮 ,  か粒 ,  破壊 ,  解析