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J-GLOBAL ID：201702219447074968   整理番号：17A1633458

走査Seebeck係数装置の設計:熱電材料における不均一性試験のためのツール【Powered by NICT】

Design of a Scanning Seebeck Coefficient Apparatus: A Tool for Testing Inhomogeneities in Thermoelectric Materials

著者 (2件)： Ramirez-Garcia Luis Felipe (Scientific Instrumentation Research Group, Instituto de Fisica, University of Antioquia, Medellin, Colombia) ,  Arnache-Olmos Oscar Luis (Solid State Research Group, Instituto de Fisica, University of Antioquia, Medellin, Colombia)
資料名： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)
巻： 66  号： 11  ページ： 3007-3011  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,表面上のいくつかの点で走査熱電試料のための簡単な,2-D Seebeck係数測定システムを提案した。測定装置は室温から35°Cまでの温度範囲における均質コンスタンタン(Cu55Ni45合金)箔で試験した。結果は,誤差7%以下で文献に報告されているデータと良く一致した。システムの不均一性検出能力を試験するために,試料表面は,ニッケル系インクの長方形層で修飾した意図的であり,システムはこの欠陥を検出することができた。この装置により,温度測定は,試料のSeebeck係数評価のための直接使用ではなく,温度測定値を用いた熱電対の平均Seebeck係数の計算のための平均試料温度を決定するための必要である。システムは走査プローブを通過する熱流束を最小化するためのヒータとヒートシンクを使用し,測定誤差を減少させた。開発したSeebeck coeffiecient走査法は15mm×5mm1mmステップの最大領域における自動化測定を可能にした。最大数75記録されたデータ点のSeebeck係数の統計解析は,試料に沿って不均一性と欠陥領域の検出に有用である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 統計解析 ,  計測システム ,  *走査 ,  ヒートシンク ,  温度測定 ,  プローブ ,  *熱電材料 ,  測定誤差 ,  熱電対 ,  熱流束 ,  *不均一性 ,  自動計測 ,  ニッケル ,  加熱器
準シソーラス用語： *Seebeck係数 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 温度測定,温度計  (AD06010K) ,  電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C)

タイトルに関連する用語 (7件)： 走査 ,  Seebeck係数 ,  設計 ,  熱電材料 ,  不均一性 ,  試験 ,  ツール