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J-GLOBAL ID：201702219668851558   整理番号：17A0943239

NBTIの存在下における工程に関連した検証のためのエージングを意識したクリティカルパス【Powered by NICT】

Aging-aware critical paths for process related validation in the presence of NBTI

著者 (2件)： Alladi Phaninder (Department of Electrical and Computer Engineering, Southern Illinois University Carbondale, 62901, United States of America) ,  Tragoudas Spyros (Department of Electrical and Computer Engineering, Southern Illinois University Carbondale, 62901, United States of America)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISQED  ページ： 445-448  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 回路の遅延はNBTI影響により劣化する。既存予測老化モデルの精度は,回路の寿命中に変化する可能性があることを入力信号確率に依存する。回路は予測以上になっているかどうかを決定するための臨界経路を定期的に試験しなければならない。経路選択を提案pinpin型老化モデルによって支援される。各年ですべてのクリティカルパスを試験するために,コンパクトなテストセットも導出した。実験結果は,提案した方法の有効性を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 臨界 ,  *クリニカルパス ,  経路選定 ,  予測
準シソーラス用語： *NBTI , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  CAD,CAM  (JE10000A)

タイトルに関連する用語 (5件)： NBTI ,  検証 ,  エージング ,  意識 ,  クリティカルパス