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J-GLOBAL ID:201702220571936674   整理番号:17A0830008

Rochow反応のためのCuOに及ぼすIn_2O_3の促進効果:ヘテロ界面でのp-n接合の形成【Powered by NICT】

Promoting effect of In2O3 on CuO for the Rochow reaction: The formation of P-N junctions at the hetero-interfaces
著者 (9件):
資料名:
巻: 348  ページ: 110-124  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0480A  ISSN: 0021-9517  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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界面および異なるIn/Cuモル比で形成されたp-n接合のRochow反応のための一連のxIn CuOモデル触媒の合成に関する最初の研究を報告した。これらの複合材料は,前駆体および沈殿剤としての金属硝酸塩とK_2CO_3を用いたワンポット水熱法により調製した。走査電子顕微鏡と透過電子顕微鏡の特性化によって,CuOとIn_2O_3間のヘテロ界面におけるp-n接合の形成を明らかにし,X線光電子分光法とH_2昇温還元はCuOとIn_2O_3相間の強い相互作用を示した。In_2O_3を添加すると,Cu核の電子密度を増加させ,Cu~2+とIn~3+を引き起こすが少なく,より正に帯電したがであった。Rochow反応に用いられるとき,触媒2In CuO(CuO上に2wt.%In)は有意に高いSi変換とCuO,電荷移動を容易にするP-N接合の形成に起因するよりもジメチルジクロロシラン((CH_3)2SiCl_2,M2)選択性を示した。さらに,新鮮及び使用済み接触質量の詳細な特性評価により,Rochow反応がSi表面に,おそらく超薄二次元Cu-Si種とCuドーピング堆積物の間の領域で起こることがわかった。In_2O_3種はCu~*(中間体)の外側への拡散を促進し,反応界面でのCu~*拡散速度を改善した。Rochow反応の基本的な理解を深めるだけでなく,In_2O_3のような促進剤を添加することによって,界面を操作することによってより効率的なCu系触媒の設計のための新しいアプローチを提供する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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その他の触媒  ,  有害ガス処理法 
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