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J-GLOBAL ID：201702220696746287   整理番号：17A0881671

還元NbドープTiO_2~-セラミックの熱電特性の研究【Powered by NICT】

Investigation of the thermoelectric properties of reduced Nb-doped TiO_2- ceramics

著者 (5件)： Yuan Zhanhui (Hebei Advanced Thin Films Laboratory, Department of Physics, Hebei Normal University, Shijiazhuang City, 050024, People’s Republic of China) ,  Gong Jing (Hebei Advanced Thin Films Laboratory, Department of Physics, Hebei Normal University, Shijiazhuang City, 050024, People’s Republic of China) ,  Xu Shikui (Hebei Advanced Thin Films Laboratory, Department of Physics, Hebei Normal University, Shijiazhuang City, 050024, People’s Republic of China) ,  Li Zhuangzhi (Hebei Advanced Thin Films Laboratory, Department of Physics, Hebei Normal University, Shijiazhuang City, 050024, People’s Republic of China) ,  Tang Guide (Hebei Advanced Thin Films Laboratory, Department of Physics, Hebei Normal University, Shijiazhuang City, 050024, People’s Republic of China)
資料名： Journal of Alloys and Compounds  (Journal of Alloys and Compounds)
巻： 710  ページ： 778-783  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0083A  ISSN： 0925-8388  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 一連のNbドープTiO_2~-(Ti_1Nb_O_2~ )セラミックを還元雰囲気中での焼なましで通常の固相反応法を用いて作製した。X線回折は,異なるNbドーピングレベル,xと共にセラミックにおける異なる相であることを明らかにした。Ti_1Nb_O_2~試料の熱電特性を100Kから380Kまでの温度範囲で測定し,これらの試料の抵抗率とSeebeck係数は半導体挙動を示すことが分かった。はこれらの試料の輸送挙動を室温から380Kまで小さなポーラロン伝導機構と一致することを示した。最大ZT値は,0.023を観察され,最も高い試験温度380Kで0.01試料が得られた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 半導体 ,  *ドーピング ,  焼なまし ,  電気抵抗率 ,  *セラミック ,  固相反応 ,  X線回折
準シソーラス用語： 試験温度 ,  伝導機構 ,  小さなポーラロン ,  Seebeck係数 ,  温度範囲 ,  還元雰囲気 ,  *熱電特性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 熱電性能 ,  Ti_1Nb-O_2~- ,  Magneli相 ,  Tiは_O_2~ 1

分類 (2件)： 圧電気,焦電気,エレクトレット  (BM05040M) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 還元 ,  Nb ,  ドープ ,  セラミック ,  熱電特性 ,  研究