陽電子消滅寿命分光法によるエチレンビニルアセテートの光起電力モジュール封止材の分解

HAGIHARA Hideaki; KUNIOKA Masao; SUDA Hiroyuki; HARA Yukiko; MASUDA Atsushi

文献

J-GLOBAL ID：201702220864790142 整理番号：17A0717776

陽電子消滅寿命分光法によるエチレンビニルアセテートの光起電力モジュール封止材の分解

Degradation of encapsulants for photovoltaic modules made of ethylene vinyl acetate studied by positron annihilation lifetime spectroscopy

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資料名：
巻： 55 号： 10 ページ： 102302.1-102302.5 発行年： 2016年10月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

本研究では,湿熱(DH)試験後の結晶Si太陽電池モジュールに用いられる,エチレンビニルアセテート(EVA)封入材の構造を,陽電子消滅寿命分光法(PALS)によって評価した。脱アセチル化の進行を示す自由体積孔サイズの減少が,DH試験後に観察された。初期およびDH試験サンプル間の寿命(Δ_T)の差は,3000時間のDH試験後に明らかに増加した。Δ_Tの増加は,イオンクロマトグラフィーによって推定されたEVA中の酢酸濃度と相関していた。低速陽電子ビームPALSによる深さプロファイル解析により,Siセル側の表面近傍のΔ_Tは,カバーガラス側のΔ_Tよりも著しく大きかった。この結果は,Siセル/EVA界面付近の脱アセチル化が促進されることを示している。(翻訳著者抄録)

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放射線化学一般 , 太陽電池 , 固体デバイス材料

引用文献 (29件)：

M. Miyashita and A. Masuda, Proc. 28th European Photovoltaic Solar Energy Conf. Exhib., 2013, p. 2828.
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T. Asaka, K. Iwami, A. Taguchi, N. Umeda, and A. Masuda, Jpn. J. Appl. Phys. 53, 04ER18 (2014).

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