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J-GLOBAL ID:201702220884551676   整理番号:17A1752366

異なる接触モードにおける配線短絡回路の金属結晶粒サイズの解析について述べた。【JST・京大機械翻訳】

Analysis of the Grain Size of the Short Circuit Molten Trace in Different Contact Ways
著者 (4件):
資料名:
巻: 33  号:ページ: 6-9  発行年: 2017年 
JST資料番号: C3222A  ISSN: 1001-7119  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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現在、模擬短絡実験を行うことは、実験の導体をランダムに重ねるだけで、実際の短絡を考慮しない場合、導体には様々なタイプの接触が存在するが、異なるタイプの接触は異なる接触抵抗をもたらし、接触アークの変化に影響する。本論文では、実際の短絡における導体のよく見られる接触方式を帰納分類し、点接触、線接触、面接触三種類の抽象実験モデルを形成し、一次短絡シミュレーション実験を行い、異なる電流下でのビードの金属組織図を得て、IPPソフトで処理し、結晶粒度を分析した。実験結果は以下を示す。溶融金属の結晶粒度は,表面接触>線接触>点接触,陽極>陰極の特性を明らかに示した。初期の短絡電流が増加するにつれて,種々の金属組織の平均長軸の長さは一般的に放物線の変化傾向を示し,平均短軸の長さの規則性はより悪い。陽極溶解金属の平均粒長軸比は放物線型の変化傾向を示し、大体の面体接触面>接触線>点接触の特徴を示している。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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電線・ケーブル 
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