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J-GLOBAL ID:201702221235891795   整理番号:17A1643580

一般化Debye源に基づくEFIEを解くための細分割表面技術の利用【Powered by NICT】

Using subdivision surface technique to solve generalized debye sources based EFIE
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: APUSNCURSINRSM  ページ: 121-122  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,一般化されたDebye源(GDS)法のアイデアを拡張し電界積分方程式(EFIE)し,新しい良好GDS EFIEを確立した。この手法を実施における主要な挑戦は,表面Laplace方程式のためのロバストなソルバを開発する困難さに起因する。本論文では,表面表現の高次連続性のために,このような解を可能にする細分割曲面を用いることを提案した。これは効率的かつ効果的な解を与えることができる。,GDS EFIEは設計による分析のための新しいアプローチとしての等幾何学的解析枠組みの中で解決できる。いくつかの数値結果は,提案した定式化を検証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
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