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J-GLOBAL ID：201702221242640800   整理番号：17A0993069

CZT検出器応答に及ぼす第二相欠陥の影響の直接観察【Powered by NICT】

Direct observation of influence of secondary-phase defects on CZT detector response

著者 (10件)： Hossain A. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  Bolotnikov A.E. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  Camarda G.S. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  Cui Y. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  Gul R. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  Gul R. (Alabama A&M University, Normal, AL 35762, USA) ,  Roy U.N. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  Yang G. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  James R.B. (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, USA) ,  James R.B. (Savannah River National Laboratory, Aiken, SC 29808, USA)
資料名： Journal of Crystal Growth  (Journal of Crystal Growth)
巻： 470  ページ： 99-103  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0942A  ISSN： 0022-0248  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 市販検出器グレードのテルル化カドミウム亜鉛(CZT)結晶は拡張欠陥,例えば,転位,粒,粒界,およびTeリッチ二次相の種々のタイプに悩まされている。これらの欠陥の大部分は,従来技術を用いて同定され,特性化され容易にできず,それらは検出器応答の不均一性の原因となる支配的な因子であると信じられている。本研究では,複数の先進技術,例えばを用いてCZT結晶中のこれらの二次相の欠陥を明らかにし,特性化X線回折トポグラフィー,マイクロスケールX線応答マッピング,化学エッチングと赤外顕微鏡による研究。,電荷収集とスペクトル応答の高空間分解能ラスタースキャンを記録することにより結晶の検出器性能を評価した。検出器応答の性能に及ぼす二次相の欠陥の影響を直接関連させた。実験結果は市販CZT放射線検出器の性能に対する拡張欠陥の望ましくない効果の明確な証拠を示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 不均一性 ,  *検出器 ,  ウェットエッチング ,  X線回折 ,  *第二相 ,  カドミウム化合物 ,  結晶粒界 ,  X線 ,  結晶 ,  キャラクタリゼーション ,  放射線検出器
準シソーラス用語： スペクトル応答 ,  電荷収集 ,  赤外顕微鏡 ,  拡張欠陥 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： A1欠陥 ,  A1特性化 ,  A1エッチング ,  A1高分解能X線回折 ,  B1カドミウム化合物 ,  B2半導性カドミウム化合物

分類 (2件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  半導体の結晶成長  (BK13040X)

タイトルに関連する用語 (4件)： CZT ,  検出器 ,  応答 ,  相欠陥