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J-GLOBAL ID:201702221654703712   整理番号:17A1567833

異なった農業土壌中のレーダ後方散乱に及ぼす表面粗さ測定スケールの影響【Powered by NICT】

Influence of Surface Roughness Measurement Scale on Radar Backscattering in Different Agricultural Soils
著者 (4件):
資料名:
巻: 55  号: 10  ページ: 5925-5936  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0016B  ISSN: 0196-2892  CODEN: IGRSD2  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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土壌表面粗さは,土壌表面に及ぼすマイクロ波の散乱に影響を及ぼし,レーダセンサにより観測された後方散乱係数(σ~0)を決定した。以前の研究は,特に農業土壌における粗さの測定とパラメータ化を損なうことを重要なスケール問題を示した。本論文の目的は,農業土壌上の後方散乱過程に関与する粗さスケールを決定することであった。この目的のために,異なる耕うん条件による農業土壌で撮影された1325mプロファイルのデータベースを使用した。これらの測定は,一連のENVISAT/ASAR観測のと一致して取得した。粗さプロファイルは三種の異なるスケーリング問題を考慮した処理した1),測定範囲の影響2)低周波数粗さ成分の影響および3)高周波粗さ成分の影響。これら問題の各々に対して,八種類の粗さパラメータを計算し,以下の側面を評価した:1)粗さパラメータを値2)σ~0;との相関および3)Ohモデルの適合度。大半のパラメータが,特にフラクタル次元,ピーク周波数と自己相関関数の初期勾配σ~0と有意に相関した。これらのパラメータは,表面高さの標準偏差または相関長のような古典的パラメータより高い相関を示した。1m以上のプロファイルを用いた場合だけでなく,小規模粗さ成分(<5 cm)または大規模粗さ成分(>100 cm)を無視した場合非常に小さな差異が観察された。結論として,中間周波数粗さ成分(5~100cmのスケール)は,農業土壌に対するレーダ後方散乱過程における最も影響力のあるスケールであると思われる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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リモートセンシング一般  ,  地形データの処理 
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