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J-GLOBAL ID：201702221760729717   整理番号：17A1718579

トカマクプラズマ条件下でのダスト粒帯電のシミュレーション【Powered by NICT】

Simulation of dust grain charging under tokamak plasma conditions

著者 (4件)： Liu Zhuang (Center for Materials under Extreme Environment, School of Nuclear Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA) ,  Liu Zhuang (Key Laboratory of Materials Modification by Laser, Ion and Electron Beams (Ministry of Education), School of Physics and Optoelectronic Technology, Dalian University of Technology, Dalian 116024, People’s Republic of China) ,  Wang Dezhen (Key Laboratory of Materials Modification by Laser, Ion and Electron Beams (Ministry of Education), School of Physics and Optoelectronic Technology, Dalian University of Technology, Dalian 116024, People’s Republic of China) ,  Miloshevsky Gennady (Center for Materials under Extreme Environment, School of Nuclear Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA)
資料名： Nuclear Materials and Energy  (Nuclear Materials and Energy)
巻： 12  ページ： 530-535  発行年： 2017年 
JST資料番号： W3044A  ISSN： 2352-1791  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 核融合装置中のダスト粒子は放射性であり,毒性物質を含んでいる可能性があり,プラズマ放電の終了をもたらすコアプラズマ中に侵入する。,トカマクのプラズマ条件下でのダスト粒子の帯電機構を研究することが重要である。本論文では,核融合プラズマにおける炭素ダスト粒子の帯電プロセスを開発ダストシミュレーション(DS)コードを用いて調べた。ダスト帯電問題を解く場合には,一般的なツールである,軌道運動制限(OML)理論を用いて,プラズマイオンと電子の収集に起因するダスト粒子の帯電を研究することである。二次電子放出(SEE)及び熱電子放出(TEE)も開発したモデルで検討した。ダスト粒子(T_d)の表面温度は種々のプラズマパラメータを推定した。浮遊電位はダストシミュレーションコードパッケージDUSTTからの利用可能なデータに対して検証した。ダスト粒子は負に1019 3m以下の10eVとプラズマ密度以下の比較的低プラズマ温度の帯電していることを示した。より高いプラズマ温度と密度に対しては,しかしながら,ダスト粒子上の電荷が陽性になる可能性がある。充電時間は結晶粒のサイズに依存するだけでなく,プラズマ温度にも依存する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *プラズマ ,  充電 ,  炭素 ,  *塵埃 ,  二次電子放出 ,  プラズマ密度 ,  *帯電 ,  熱電子放出 ,  表面温度 ,  *トカマク ,  プラズマ温度
準シソーラス用語： 浮遊電位 ,  核融合プラズマ ,  プラズマ放電 ,  ダスト粒子 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (2件)： ダスト帯電 ,  トカマク

分類 (2件)： Auger電子放出,二次電子放出  (BM09040O) ,  核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (3件)： ダスト ,  帯電 ,  シミュレーション