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J-GLOBAL ID：201702221863766063   整理番号：17A1723071

XUVビームの焦点での線形および非線形過程によって生成されたイオン分布を画像化するためのツールとしてのイオン顕微鏡【Powered by NICT】

The ion microscope as a tool for imaging the ion distribution produced by linear and non-linear processes at the focus of an XUV beam

著者 (11件)： Tsatrafyllis N. (Foundation for Research and Technology-Hellas, Institute of Electronic Structure & Laser, GR-71110 Heraklion (Crete), Greece) ,  Bergues B. (Max-Planck-Institut fur Quantenoptik, D-85748 Garching, Germany) ,  Schroeder H. (Max-Planck-Institut fur Quantenoptik, D-85748 Garching, Germany) ,  Veisz L. (Max-Planck-Institut fur Quantenoptik, D-85748 Garching, Germany) ,  Skantzakis E. (Foundation for Research and Technology-Hellas, Institute of Electronic Structure & Laser, GR-71110 Heraklion (Crete), Greece) ,  Gray D. (Foundation for Research and Technology-Hellas, Institute of Electronic Structure & Laser, GR-71110 Heraklion (Crete), Greece) ,  Bodi B. (Foundation for Research and Technology-Hellas, Institute of Electronic Structure & Laser, GR-71110 Heraklion (Crete), Greece) ,  Kuhn S. (ELI-ALPS, ELI-Hu kft. Dugonics ter 13, H-6720 Szeged Hungary) ,  Tsakiris G. D. (Max-Planck-Institut fur Quantenoptik, D-85748 Garching, Germany) ,  Charalambidis D. (Foundation for Research and Technology-Hellas, Institute of Electronic Structure & Laser, GR-71110 Heraklion (Crete), Greece) ,  Tzallas P. (Foundation for Research and Technology-Hellas, Institute of Electronic Structure & Laser, GR-71110 Heraklion (Crete), Greece)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CLEO/Europe-EQEC  ページ： 1  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： XUVビームの焦点[1+2]で空間的に分解した原子イオン化生成物を測定する線形および非線形極端紫外(XUV)スペクトル領域における定量的測定のためのツールを実証した。電離放射線はキセノンガスジェット中で生成したTi:サファイアフェムト秒レーザビームの11世紀から15高調波のくし形である。高調波の焦点での空間イオン分布はイオン顕微鏡検出器[2]を用いて記録した。アルゴンとヘリウムの空間分解単一及び二光子イオン化生成物が観察された。イオン分布から単一及び二光子一般化断面積は自己較正法で抽出しなければならない。これはアト秒(asec)パルス[4]の将来の単一ショット時間特性の評価に向けての重要なステップを構成するXUV放射の焦点における空間的に分解された二XUV光子イオン化の最初の観察である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 光子 ,  パルス ,  ヘリウム ,  イオン化 ,  アルゴン ,  フェムト秒レーザ ,  *線形性 ,  高調波 ,  極端紫外線 ,  断面積 ,  二光子 ,  *イオン顕微鏡 ,  *画像化 ,  *イオン分布
準シソーラス用語： アト秒 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (9件)： ビーム ,  焦点 ,  線形 ,  非線形 ,  過程 ,  イオン分布 ,  画像化 ,  ツール ,  イオン顕微鏡