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J-GLOBAL ID:201702222165012429   整理番号:17A1400795

不均一ネットワークのアップリンクシナリオにおける認証パラメータの解析【Powered by NICT】

Analysis of Authentication Parameters in Uplink Scenario of Heterogeneous Networks
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: Trustcom/BigDataSE/ICESS  ページ: 833-838  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ユーザ装置で急速に成長している需要(UE)に基づく十分な能力を提供することを異種ネットワーク(HetNets)の役割を否定するものではない。モバイルユーザのための安全でロバストな認証機構の設計は不可欠である。バタフライグラフ認証機構を備えたHetNetの数学モデルは,パケット損失確率を考慮に入れ,HetNetsを研究するための強力なツールを提供することを導いた。停止と認証破壊はH etNetにおけるパケット損失の主な理由の二つである。前者はH etNetにおける高い干渉に起因する。認証信号への攻撃,雑音のあるチャネルを指定すべき後者のみいくつかの理由である。ここで主要な評価尺度はK層H etNetの上りリンクシナリオに対して誘導されるスループットの見地においてユーザ体験であり,待ち行列理論をパケットレベルで動作する妨害を持つM/G/1待ち行列をモデル化するために利用される場合,確率幾何学は層の故障確率を見出すために使用し,最終的にグラフ理論に基づくアルゴリズムを閉形式で認証故障確率を見出すの基礎である。UE待ち行列長の統計に認証パラメータの影響をスループットに直接印象,次のシステムに課されるオーバヘッドにバタフライグラフベースシグネチャを用いたの効果を分析することによりその後につながる本論文の主な焦点である。結果は各パケットが個別に署名した場合と比較してこの方式を用いた場合にはオーバヘッドが顕著に低下することを示した。システムの安定性条件を満足するようにこれらの利点のすべては,パラメータの適切な選択に基いて調整した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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