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J-GLOBAL ID：201702222680999434   整理番号：17A0703517

ケモメトリックスを用いた赤外拡散反射分光法近紫外可視短波によるキラル化合物のエナンチオマ過剰率のキラル認識と定量【Powered by NICT】

Chiral recognition and determination of enantiomeric excess of chiral compounds by UV-visible-shortwave near infrared diffuse reflectance spectroscopy with chemometrics

著者 (7件)： Lu Xiaomei (College of Chemical Engineering, Sichuan University, Chengdu 610065, P. R. China. [e-mail]) ,  Tang Jie ,  Dang Xinxin ,  Jing Xiaoli ,  Xu Kailin ,  Li Hui ,  Liang Bing
資料名： RSC Advances (Web)  (RSC Advances (Web))
巻： 7  号： 22  ページ： 13552-13560  発行年： 2017年 
JST資料番号： U7055A  ISSN： 2046-2069  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エナンチオマのエナンチオマ過剰率,ケモメトリックスと組み合わせた赤外拡散反射分光法(UV可視SWNIR DRS)法近紫外可視短波に基づくのキラル認識と定量のために提案した簡単なアプローチ。キラル認識の結果は,UV可視SWNIR DRSと組み合わせた主成分分析(PCA)は様々なキラリティーに基づくキラル化合物を識別できることを示した。エナンチオマ過剰率値の決定は,線形回帰モデル部分最小二乗法(PLSR)及び非線形回帰モデルサポートベクトルマシン回帰(SVR)UV可視SWNIR拡散反射分光法と組合せて行った。波長選択,スペクトル前処理とパラメータ最適化後,両モデルは良好な予測能力:PLSRモデルにより設定された予測の決定係数(R~2)を示し,SVRモデルは,それぞれ0.9921と0.9951で,平均標準誤差(MSEs)はそれぞれ0.0029および0.0020であった。SVRモデルは,より良い予測効果を持っている。本法の検出限界(LD)は0.059であった。結果は,このアプローチがキラル化合物を識別し,鏡像異性体のエナンチオマ過剰率を決定するために使用できることを証明した。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 部分最小二乗法 ,  予測 ,  *エナンチオマ ,  *ケモメトリックス ,  検出限界 ,  スペクトル ,  主成分分析 ,  *近紫外線 ,  サポートベクトルマシン
準シソーラス用語： 決定係数 ,  線形回帰モデル ,  *不斉認識 ,  *エナンチオマ過剰率 ,  *キラル化合物 ,  *拡散反射分光法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 反応の立体化学  (CF02130V)

タイトルに関連する用語 (9件)： ケモメトリックス ,  赤外 ,  拡散反射分光法 ,  近紫外 ,  短波 ,  キラル化合物 ,  エナンチオマ過剰率 ,  キラル認識 ,  定量