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J-GLOBAL ID:201702223178831475   整理番号:17A0443702

紙ベースプラットフォーム上での粉末X線回折検出【Powered by NICT】

Powder X-ray diffraction detection on a paper-based platform
著者 (6件):
資料名:
巻: 164  ページ: 283-290  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0324A  ISSN: 0039-9140  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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紙ベースプラットフォーム上での相の同定および/または結晶構造決定を実現するための紙ベースの粉末X線回折(PP XRD)を開発した。これらの目的は,他の紙ベース検出器,Raman分光法及び質量分析などで可能でない。PP XRDは,これらの制限を克服する。ここで著者らは,無機および有機材料の相同定のための簡単で低コストのin situ PP XRDプロトコルを報告した。紙基板上に硝酸鉛の試料量をX線回折(XRD)パターンの同じ信号対雑音比(S/N)での標準ガラス基板を用いることにより従来の1/30に低減できることを示した。紙ベースの方法は,零-バックグラウンドホルダ法を用いた試料量と強度で同程度であった,零背景ホルダーとして単結晶Si(100)基板は,CTAB(C_19H_42BrN)の試料調製に使用した。より重要なことは,紙基板は通常の粉末XRDに一般的に存在した優先配向を減らすのに役立つ。,ペーパークロマトグラフィーと組み合わせて,硝酸鉛と硝酸コバルト六水和物のXRD検出パターンで除去された重複ピーク。この新しいPP XRDプロトコルは,相を同定または微量試料を用いた新しい材料の分子構造を直接決定するためにプロセスを加速する可能性がある。も化学溶液の簡単な紙ベースのマイクロ流体分離と粉末XRDの複合技術を含んでいる。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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