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J-GLOBAL ID：201702223510407599   整理番号：17A0911406

HVDCガス絶縁システムにおけるスペーサの表面上の電荷蓄積パターン:支配的な一様帯電とランダム電荷スペックル【Powered by NICT】

Charge accumulation patterns on spacer surface in HVDC gas-insulated system: Dominant uniform charging and random charge speckles

著者 (3件)： Zhang Boya (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University, Beijing, 100084 China) ,  Qi Zhe (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University, Beijing, 100084 China) ,  Zhang Guixin (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University, Beijing, 100084 China)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 24  号： 2  ページ： 1229-1238  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 局所歪と増強によるポリマ絶縁体の過大応力をもたらすので,固体絶縁体表面上の電荷蓄積が直流ガス絶縁装置の開発のための重要な因子の一つである。,直流電場下でスペーサ表面の電荷蓄積現象を研究することが重要である。何十年もの間,研究者は測定とシミュレーションによりこの問題に大きな進歩を遂げている。しかし,測定結果を種々の電極配置と実験条件のために種々の研究者によって全く異なっていた。さらに,ほとんどの研究者は,電荷密度,多くの電荷密度分布の詳細を可能性の背景にある隠されていることは厳密ではないを表現するためにポテンシャルを用いた。純数値シミュレーションについては,報告はむしろ大学,時には実際の事実と一致できない。本論文では,高電圧直流ガス絶縁システムにおけるスペーサの表面上の電荷蓄積パターンを特性化した。直流電圧下での0.1MPa空気中モデルGILスペーサ上の表面電荷分布は,高度測定法からの主要な均一帯電パターンとランダム電荷スペックルを分離により得られた。支配的な均一な充電パターンの原因となる機構はシミュレーションモデルの助けを借りて議論した。結果は,清浄化したシステムでは,スペーサバルクを通る電流は主要な因子であることを示しているが,ガス伝導はいくつかの不可避イオン源に起因する無視できない。電荷の高度に局在化したポケットも観測され,これはスペックルと呼ばれている。電極上のスペーサ表面または微視的突起上での小さな金属粒子によるマイクロ放電に起因すると考えられる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *帯電 ,  シミュレーションモデル ,  重合体 ,  *ガス絶縁 ,  電荷分布 ,  *電荷 ,  キャラクタリゼーション ,  絶縁体 ,  *スペックル ,  直流電圧 ,  直流 ,  *スペーサ ,  シミュレーション ,  金属粒子 ,  数値シミュレーション ,  電荷密度

分類 (2件)： 絶縁材料  (NA04030W) ,  開閉装置  (NB09030I)

タイトルに関連する用語 (8件)： HVDC ,  ガス絶縁 ,  スペーサ ,  電荷蓄積 ,  支配 ,  帯電 ,  電荷 ,  スペックル