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J-GLOBAL ID:201702223838572255   整理番号:17A1269370

MgO CaO2SiO_2材料系の微細構造変化とマイクロ波誘電特性【Powered by NICT】

Microstructural evolution and microwave dielectric properties of MgO-CaO-2SiO2 material system
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: ICASI  ページ: 1154-1157  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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マイクロ波部品用のMgO CaO2SiO_2ガラス-セラミック系の微細構造特性とマイクロ波誘電特性をRietveld精密化法,透過型電子顕微鏡及びマイクロ波誘電測定を用いて調べた。異なる量単斜晶ジルコニア(m-ZrO_2)核形成剤のMgO CaO2SiO_2ガラス系に添加した低焼結温度プロセス(850°Cから950°Cまで)のためのCaMgSi_2O_6ディオプサイドガラスセラミックの品質因子(Q×f)を合成し,向上させることである。実験結果は正方晶(t)-ZrO_2は非晶質MgO CaO2SiO_2マトリックス最初に形成され,次に結晶CaMgSi_2O_6相は850°Cからの不均一核形成による焼結後t ZrO_2周りで核形成し,成長することを明らかにするt ZrO_2の形成はm ZrO_2へのCa~2+とMg~2+の拡散に起因すると考えられる,t ZrO_2への変換をもたらした。Rietveld精密化の結果は,試料を950°Cで2時間焼結したとき,CaMgSi_2O_6透輝石相形成と結晶成長による最低非晶質含有量と最高品質因子であることを示した。透過型電子顕微鏡による研究は構造的及び微細構造的配置は,マイクロ波誘電特性に影響を及ぼすことを意味している。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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固体の機械的性質一般  ,  半導体薄膜 
タイトルに関連する用語 (3件):
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