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J-GLOBAL ID:201702223843000308   整理番号:17A0193274

宇宙線による通信装置のソフトエラーへの取組みと国際標準化活動

著者 (1件):
資料名:
巻: 47  号:ページ: 37-40 (WEB ONLY)  発行年: 2017年01月 
JST資料番号: U0381A  ISSN: 2434-9712  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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(社法)電子電話技術委員会において,通信装置のEMCSWG内に通信装置のソフトエラーに関する標準化Adhocを2015年に開設し,活発な議論を経て勧告草案を作成してきた。現在,ITU-T SG5に新規勧告提案されたものが,「K.124通信装置の粒子放射線影響の概要」として承認されている。本稿では,K.124へ記載した内容を説明した。具体的には,1)ソフトエラーの発生するメカニズム,2)半導体プロセス技術の微細化により増加するソフトエラー,3)ソフトエラーが通信装置に及ぼす影響,4)通信装置のソフトエラー対策,5)標準化の必要性,6)ソフトエラーに対する通信装置の開発手順について述べた。最後に,今後ソフトエラーに関する標準化を進める上で課題となるのは,ソフトエラーに対する品質基準の設定と,様々なスペックの加速器がある中,品質基準の適合性を統一的に評価する手法であるとした。
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分類 (3件):
分類
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通信工学・通信事業一般  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  技術の標準化・規格 
引用文献 (3件):
  • H. Iwashita et al.,“ Accelerated Tests of Soft Errors in Network Systems Using a Compact Accelerator-Driven Neutron Source,” IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. PP, no. 99, Nov. 2016. http://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/7742993/
  • 通信装置のソフトエラーに関する標準化Adhocの開設および委員募集 http://www.ttc.or.jp/j/info/bosyu/20150804/
  • Ibe, Eishi, et al“. Impact of scaling on neutroninduced soft error in SRAMs from a 250 nm to a 22 nm design rule.”Electron Devices, IEEE Transactions on 57.7(2010):1527-1538.
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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