抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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有効資源,制御時間を管理し,開発リスクを低減するために,小規模または高可変ソフトウェアプロジェクトはIID(反復インクリメンタルな開発)プロセスを用いて非常に適している。IIDプロセスを適用して,アジャイル開発モデルは,ソフトウェアプロジェクトの失敗率を低減するために実用的な方法となっている。連続試験は,タイムリーな品質欠陥を同定し,ソフトウェア開発リスクを効果的に低減できるIID実装概念である。しかし,連続試験と実行可能なバージョンを構築は多くの時間と人的資源を費やす必要がある。IIDの主要な欠陥である。連続試験効率を改善するために,深さをテストケースとバージョン管理について概説した。テストケースの強化版制御と試験ツールフレームはIID欠点を構成しIIDプロセス効率と品質を向上させることができる。このために,本論文では新しい版統合と設置作業を支援するためのバージョン制御に基づく連続試験フレーム(VCCTF)を提案した。IIDとVCCTFはソフトウェアプロセス問題を作成し,品質欠陥は,タイムリーな同定され,新バージョンを展開する迅速,IIDプロセス効率と品質を向上させると,ソフトウェアプロジェクトのリスクを減らすことができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
